SN74BCT8374ADWR - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
codice articolo del costruttore
Numero parte interna
fabbricante
Breve descrizione
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Stato RoHS
Senza piombo / Conforme RoHS
Tempo di consegna
1-2 giorni
quantità disponibile
39072 Pieces
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Specifiche per SN74BCT8374ADWR
Qualità garantita :
365 giorni di garanzia
Risorsa stock :
Distributore / produttore in franchising diretto
Paese d'origine :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numero parte :
SN74BCT8374ADWR
fabbricante :
Texas Instruments
Descrizione :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Serie :
74BCT
Stato parte :
Obsolete
Tipo di logica :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensione di alimentazione :
4.5V ~ 5.5V
Numero di bit :
8
temperatura di esercizio :
0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio :
Surface Mount
Pacchetto / caso :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore :
24-SOIC
Peso :
-
Condizione :
Nuovo e originale
Documenti per SN74BCT8374ADWR
Schede tecniche :
SN74BCT8374ADWR.pdf
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