SN74BCT8374ADW - IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
codice articolo del costruttore
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fabbricante
Breve descrizione
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Stato RoHS
Senza piombo / Conforme RoHS
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1-2 giorni
quantità disponibile
58188 Pieces
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Specifiche per SN74BCT8374ADW
Qualità garantita : 365 giorni di garanzia
Risorsa stock : Distributore / produttore in franchising diretto
Paese d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numero parte : SN74BCT8374ADW
fabbricante : Texas Instruments
Descrizione : IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Serie : 74BCT
Stato parte : Active
Tipo di logica : Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tensione di alimentazione : 4.5V ~ 5.5V
Numero di bit : 8
temperatura di esercizio : 0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio : Surface Mount
Pacchetto / caso : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore : 24-SOIC
Peso : -
Condizione : Nuovo e originale
Documenti per SN74BCT8374ADW
Schede tecniche : SN74BCT8374ADW.pdf
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