SN74ABT18646PM - IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
codice articolo del costruttore
Numero parte interna
fabbricante
Breve descrizione
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Stato RoHS
Senza piombo / Conforme RoHS
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1-2 giorni
quantità disponibile
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Specifiche per SN74ABT18646PM
Qualità garantita : 365 giorni di garanzia
Risorsa stock : Distributore / produttore in franchising diretto
Paese d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
Numero parte : SN74ABT18646PM
fabbricante : Texas Instruments
Descrizione : IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Serie : 74ABT
Stato parte : Active
Tipo di logica : Scan Test Device With Transceivers And Registers
Tensione di alimentazione : 4.5V ~ 5.5V
Numero di bit : 18
temperatura di esercizio : -40°C ~ 85°C
Tipo di montaggio : Surface Mount
Pacchetto / caso : 64-LQFP
Pacchetto dispositivo fornitore : 64-LQFP (10x10)
Peso : -
Condizione : Nuovo e originale
Documenti per SN74ABT18646PM
Schede tecniche : SN74ABT18646PM.pdf
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