Specifiche per SN74BCT8373ADWRG4

Numero parte : SN74BCT8373ADWRG4
fabbricante : Texas Instruments
Descrizione : IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Serie : 74BCT
Stato parte : Obsolete
Tipo di logica : Scan Test Device with D-Type Latches
Tensione di alimentazione : 4.5V ~ 5.5V
Numero di bit : 8
temperatura di esercizio : 0°C ~ 70°C
Tipo di montaggio : Surface Mount
Pacchetto / caso : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore : 24-SOIC
Peso : -
Condizione : Nuovo e originale
Qualità garantita : 365 giorni di garanzia
Risorsa stock : Distributore / produttore in franchising diretto
Paese d'origine : USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
codice articolo del costruttore
Numero parte interna
fabbricante
Breve descrizione
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Stato RoHS
Senza piombo / Conforme RoHS
Tempo di consegna
1-2 giorni
quantità disponibile
46746 pezzi
Prezzo di riferimento
USD 0
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