8V182512IDGGREP Scheda dati
Specifiche per 8V182512IDGGREP
Numero parte :
8V182512IDGGREP
fabbricante :
Texas Instruments
Descrizione :
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Serie :
-
Stato parte :
Active
Tipo di logica :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tensione di alimentazione :
2.7V ~ 3.6V
Numero di bit :
18
temperatura di esercizio :
-40°C ~ 85°C
Tipo di montaggio :
Surface Mount
Pacchetto / caso :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Pacchetto dispositivo fornitore :
64-TSSOP
Peso :
-
Condizione :
Nuovo e originale
Qualità garantita :
365 giorni di garanzia
Risorsa stock :
Distributore / produttore in franchising diretto
Paese d'origine :
USA / TAIWAN / MEXICO / MALAYSIA / PHI
codice articolo del costruttore
Numero parte interna
fabbricante
Breve descrizione
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Stato RoHS
Senza piombo / Conforme RoHS
Tempo di consegna
1-2 giorni
quantità disponibile
58716 pezzi
Prezzo di riferimento
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